STF製作事例

STF製作事例

仕様変更に柔軟対応!複数デバイス向け「評価治具」

開発現場において、新製品や試作品の評価・耐久試験を繰り返す中で、「評価対象が増えて作業が追いつかない」「試作の仕様変更のたびに環境を作り直すのが大変」とお困りではありませんか?

本事例では、複数機種の切り替えや試験条件の変化に柔軟に対応し、評価作業を劇的に効率化する「専用評価治具」を設計・製作しました。

ご相談内容

「複数の評価対象をスムーズに切り替え、効率的に試験を進めたい」というご相談からスタートしました。

製品開発の過程では、以下のような課題が発生しがちです。

  • 評価対象の増加: チャネル数や接続するデバイスが増え、市販の評価用ボードでは対応しきれない
  • 試験条件の変動: 開発途中で仕様変更が頻繁に起こり、その都度セッティングを直す手間がかかる
  • 比較評価の難しさ: 複数機種を同じ条件で比較したいが、接続の手間や配線の複雑さがハードルになる

市販品だけではカバーできない複雑な試験環境に対し、現場の運用にフィットした「専用の治具」が求められていました。

対応内容

単に基板をセットする治具をつくるだけでなく、実際の試験手順や評価のしやすさを最優先に考え、評価環境を丸ごと構築しました。

産業機器向け電子制御基板の配線アセンブリ。リレーモジュール、制御回路、電源ハーネス、コネクタ配線を組み合わせた電子回路システムのイラスト。

主な仕様・工夫点

  • 評価方法に合わせた専用設計: 評価内容(電気特性・耐久性など)に合わせて、接続構成・配線・ケーブル長・基板配置をゼロから最適化。「評価しやすい」動線を設計しました。
  • 仕様変更にも柔軟に対応する構造: 試作品特有の「後からの変更」をあらかじめ想定。将来的なピン配置の変更やデバイスの追加に対応しやすい拡張性を持たせています。
  • 評価環境全体の一括製作: 治具本体はもちろん、専用ケーブルの作成、配線処理、内部組み立てまでトータルで実施しました。

このようなお悩みを解決します

  • 複数デバイスの比較評価や耐久試験を、もっと手軽かつスピーディに行いたい
  • 開発途中で試作の仕様変更が多く、治具を作り直すコストや納期を抑えたい
  • 治具だけでなく、接続ケーブルや組み立てまでまとめてお願いしたい

仕様が完全に固まっていない試作初期の段階から、「どのような構造にすれば一番評価しやすいか」という視点で最適な構成をご提案します。

専用評価治具による3つのメリット

  1. 評価作業の大幅な効率化: デバイスの切り替えや接続がスムーズになり、試験のリードタイムを短縮
  2. 仕様変更リスクへの追従: あとから変更しやすい柔軟な設計により、開発変更時の作り直しロスを低減
  3. 届いてすぐに使える「完成状態」で納品: 治具・基板・ケーブル・組立まで一元対応し、お客様のセットアップ工数を削減

サプルテクノファクトリーでは、試作基板や検査治具、ハーネス製作、組み立てにとどまらず、「どうすれば作業者が評価しやすいか」という現場目線のご提案を得意としています。

「評価環境が整っておらず試験が進まない」「複数デバイスの扱いにお困り」という場面でも、まずはお気軽にご相談ください。

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